使用隔离的模拟量模块连接非隔离的传感器
传感器不隔离，那么信号源端以传感器本地的地为基准点电位。模块是隔离的，以MANA点为测量基准电位。典型接线如图4所示，
从图4可以看到，非隔离的传感器信号负端在源端接地，但是如果连接多个非隔离的传感器并且分布在不同的地方（不同的接地点），这种情况下就比较麻烦。各个传感器信号的负端会有共模电压UCM ，为了消除UCM ，将各个信号的负端在源端使用短而粗的导线进行等电位连接，由于模块的MANA和信号源端的地可能存在电位差，还要将MANA与源端的地进行等电位连接。在这里不能在模块处进行短接，否则不能消除UCM。
如果工厂接地不好，较好还是使用隔离的传感器。
6、使用非隔离的模拟量模块连接非隔离的传感器
如果使用非隔离的模拟量连接非隔离的传感器，那么一定将所有的点接地并进行等电位处理。典型接线如图5所示，
从图5可以看到，按照隔离与非隔离的要求，模块不隔离，**连接MANA与地M，传感器不隔离则需要连接信号负端到本地的地，这样一边以信号源的地作为基准点，一边以模块的地M作为基准点，为了消除两者之间的电位差（共模电压UCM），需要使用足够粗的导线进行等电位连接。
如果整个工厂有等电位的接地网，使用非隔离的仪表和模块就比较简单，只需要连接MANA到本地的地M即可，因为每个点都等电位。往往事与愿违，由于非隔离的仪表价格便宜，越是使用这样仪表的地方，地通常打得都不会好，就*别提接地网和等电位连接了。不采取措施肯定有问题，**保证等电位。使用万用表可以测量，那是因为万用表与地是隔离的，较大的共模电压UCM 也可能不同 ，与模块不在相同的条件下。建议使用隔离的传感器和模块。
讲了一系列的接线方式，较终的结论就是模拟量接线的几种方式都集中在一点上，
钝化描述的是一种状态，整个故障安全信号模块或模块的单个通道发生
钝化时会自动使用故障安全值  (0)代替过程值。
简单的说，就是在钝化
状态下
输出模块没有输出
，即使安全程序中输出地址还在置位；
输入模
板没有输入
（输入模板提供替代值“0”给安全程序）
，即使实际信号状态
为接通（1）状态。
输入钝化：
我这里以急停信号为例，没有钝化情况下，急停按钮没有被按下，急停信号
状态是1。
钝化情况下，急停按钮没有被按下，急停信号状态是0,此时线体报
急停。
输出钝化：
以安全供电信号为例，没有钝化情况下，输出信号为1则输出模块输出24V，
钝化情况下，输出信号为1，输出模块无24V输出。
去钝
去钝的意思当然就是消除钝化的这种状态喽。
02
什么情况下会发生钝化？

•  在故障安全系统的CPU启动阶段一直到CPU进入“运行”模式
•  故障安全CPU  和故障安全信号模块之间出现PROFIsafe通信错误
•  当故障安全信号模块或通道出现故障时(例如：断线，交叉接线等 )
•  设置故障安全信号模块 DB 内的参数   PASS_ON = 1
03
通道钝化和模块钝化有什么区别？
在安全模块的属性下，可以设置当其中一个通道出现异常时，是钝化整个模
块还是钝化单个通道
当选择钝化整个模块时，这个模块的所有输入或者输出都会被钝化，当
选择钝化通道时，只有当前通道会钝化。
04
如何判断模块是否发生了钝化？
在编译硬件组态时，安全系统会为每个F-IO模块自动创建一个F-IO DB。可
以在程序中评估其中的变量PASS_OUT和AD， 如果F-I/O 发生钝化，则
变量 PASS_OUT = 1 和 AD = 1 。
下图分别是在STEP7和TIA Portal
软件中ET200S 4/8 F-DI模块发生故障进入钝化状态时的F-IO DB变量
PASS_OUT和AD状态。
05
如何去钝？
当导致故障安全信号模块钝化的错误消失后，需要用户对模块状态进行确
认，这个确认的操作就称作去钝（重新集成）。
去钝完成后，模块由提供故
障安全值（0）切换到过程值，输出状态重新由过程映像区地址控制，输入的
过程映像区地址提供实际的信号状态。
请求去钝：
当导致安全模块钝化的故障修复后，对应F-IO DB中的请求应答信号
ACK_REQ变为1，表示故障已经解除请求去钝。
去钝：
只需要脉冲方式将F-IO DB中的变量ACK_REI置位，给出应答信号，就可以
完成去钝。
  较大测试周期和较大回读时间
较大测试周期
：指安全输出模块进行位模式测试的间隔时间，可以设置为1000s    （默认）或100s，周期性进行。如果测试到故障，模块自动将时间间隔缩减为60s，如下所示。
图1 较大测试周期组态
较大回读时间：
用于设定安全输出模块位模式测试脉冲的宽度，模块以100ms的间隔发出位测试脉冲，如果在回读的时间内不能收到回读*的信号，模块故障钝化。
这两个参数由输出模块所连接的负载特性决定，有可能需要反复测试修改。
图2 较大回读时间组态
Max. readback time dark     test：关断位测试的回读时间（同时也是当通道输出为1时，进行关断位测试Dark  test时P/M开关短时间断开的时间），值范围0.6~400.0ms，默认1.0 ms，如下所示。
图3 Dark test断开时间
Max. readback time switch on     test：接通位测试的回读时间（同时也是当通道输出为0时，进行接通位测试Switch on  test时P/M开关短时间接通的时间），值范围0.6~5.0ms，默认0.6 ms如下所示。
图4 Switch on test接通时间
注意：由于组态回读时间的长度会增加故障的响应时间，建议将回读时间设置为尽可能小，但需要确保输出通道不会钝化。